scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

editora: springer
autor: charles e. lyman
Não Comercializado

Dados Técnicos

Autor:
Encadernação:Capa dura
ISBN13:9780306472923
ISBN10:0306472929
Número de Páginas:689
Número Edição:3
Ano Edição:2002

Largura:16,5
Profundidade:1
Peso:1,67
Altura:23,5
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Sinopse scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
The basis of this textbook is a short course taught by the authors at the Lehigh Microscopy Summer School. Chapters cover electron beam-specimen interaction, image formation and interpretation, x-ray spectral measurement, x-ray analysis, specimen preparation, and procedures for elimination of charging in specimens. The CD-ROM contains more advanced discussion that is detailed and equation-rich, much of which formed the last chapter of the second edition.

Scanning Electron Microscopy And X-ray Microanalysis